美國(guó)TSI CHEMREVEAL™ LIBS臺(tái)式激光誘導(dǎo)擊穿光譜元素分析儀可直接分析固體物質(zhì)中的所有元素，它是一款對(duì)未知化學(xué)成分的物質(zhì)進(jìn)行快速元素分析的理想儀器，也是對(duì)樣品進(jìn)行初篩分析不錯(cuò)的解決方案，而且它比傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)室儀器操作簡(jiǎn)單。

美國(guó)TSI CHEMREVEAL™ LIBS臺(tái)式激光誘導(dǎo)擊穿光譜元素分析儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

TSI ChemReveal 是用的激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (庫(kù)) 建造的, 是快速分析元素的理想工具，相比其他很多方法更有助于預(yù)先篩選，它可為固體材料中幾乎所有元素提供直接化學(xué)分析美國(guó)TSI元素分析儀總代理在哪。

TSI ChemReveal臺(tái)式LIBS分析儀(激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀)可直接分析固體物質(zhì)中的所有元素，它是一款對(duì)未知化學(xué)成分的物質(zhì)進(jìn)行快速元素分析的理想儀器，也是對(duì)樣品進(jìn)行初篩分析不錯(cuò)的解決方案，而且它比傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)室儀器操作簡(jiǎn)單。TSI ChemReveal分析儀可同時(shí)分析材料中的有機(jī)元素(C,H,O,N)、輕元素(比如Li,B,Be,Na,Mg)和重金屬元素。美國(guó)TSI元素分析儀總代理它具有高分辨率的成像能力，以及電腦控制的全自動(dòng)樣品臺(tái)，可做材料的面掃描分析和厚度剖析--適用于薄膜涂層的化學(xué)成分分析。TSI ChemReveal臺(tái)式LIBS分析儀主要應(yīng)用在實(shí)驗(yàn)室中，內(nèi)置基礎(chǔ)和高等的用戶界面，是固態(tài)樣品進(jìn)行快速元素成分分析的理想解決方案。

TSI ChemReveal™ LIBS 臺(tái)式分析儀內(nèi)置的 TSI ChemLytics™ 軟件，能夠支持測(cè)試方法的開(kāi)發(fā)，建立定標(biāo)曲線或數(shù)據(jù)庫(kù)，可對(duì)樣品進(jìn)行定性定量的快速分析，對(duì)于專業(yè)級(jí)客戶，我們有ChemLytics Plus™化學(xué)計(jì)量學(xué)軟件，建立多變量模型，用于復(fù)雜成分材料的定量分析。

擁有TSI公司強(qiáng)大的服務(wù)和技術(shù)支持體系為保障，以及超過(guò) 50 年生產(chǎn)制造高品質(zhì)儀器的良好聲譽(yù)， TSI ChemReveal ™ LIBS 臺(tái)式分析儀是您對(duì)固態(tài)物質(zhì)進(jìn)行元素分析理想的選擇。美國(guó)TSI元素分析儀總代理在哪

美國(guó)TSI CHEMREVEAL™ LIBS臺(tái)式激光誘導(dǎo)擊穿光譜元素分析儀產(chǎn)品應(yīng)用：

金屬成分分析

金屬牌號(hào)識(shí)別

**

環(huán)境

地質(zhì)

玻璃/陶瓷

納米材料

法醫(yī)鑒定

更多應(yīng)用...

美國(guó)TSI CHEMREVEAL™ LIBS臺(tái)式激光誘導(dǎo)擊穿光譜元素分析儀特點(diǎn)及優(yōu)勢(shì)：

寬泛的元素檢測(cè)范圍-從Z<12的輕元素(如 C,H,O,N,Li,B,Be)到重金屬元素

分析速度快-幾秒鐘到幾分鐘

幾乎不需要樣品處理過(guò)程-直接分析固體樣品、顆?；蚍勰?

比其它的元素分析方法需要更少的樣品，幾乎沒(méi)有樣品消耗

微米級(jí)別的厚度剖析和面分布圖

微米到宏觀分析-定向而靈活的點(diǎn)分析

定性的樣品分類或者定量的元素含量分析

可選的不同型號(hào)的激光器和探頭，以滿足您不同的應(yīng)用需求

大多數(shù)元素的檢出限為可十幾到幾十個(gè)ppm量級(jí)

TSI 售后和技術(shù)支持